Taldea zenbakia :
SN74BCT8374ADWRE4
fabrikatzailea :
Texas Instruments
deskribapena :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Taldearen egoera :
Obsolete
Logika mota :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Hornidura tentsioa :
4.5V ~ 5.5V
Eragiketa tenperatura :
0°C ~ 70°C
Muntatzeko mota :
Surface Mount
Paketea / Kaxa :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Hornitzaileentzako gailu paketea :
24-SOIC